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磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片
一、概述
磁粉探傷靈敏度試片,是檢驗(yàn)磁粉探傷機(jī)、磁粉探傷儀探傷靈敏度的一種國家標(biāo)準(zhǔn)試片。對于幾何形狀復(fù)雜,不同材質(zhì)的工件進(jìn)行磁粉探傷時(shí),可以運(yùn)用試片正確地選擇磁化規(guī)范,并可檢查探傷設(shè)備,磁粉和磁懸液的性能,在磁粉探傷操作過程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,并對顯示缺陷的磁場度有所估量。所以對于從事磁粉探傷行業(yè)的技術(shù)人員,或?qū)τ谑褂么欧厶絺麢C(jī),磁粉探傷儀的操作人員來說,了解磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片的分類和用途知識(shí),將有助于幫助大家對磁粉探傷機(jī)及磁粉探傷儀的性能及設(shè)備靈敏度的了解。
二、分類:
磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片也稱探傷試片,型號(hào)名稱的分?jǐn)?shù)中分子表示試片人工缺陷槽的深度,分母表示試片的厚度,單位為um,常用的試片有A1型、C型、D型和M1型四種。試片是由DT4A超高純低碳純鐵經(jīng)軋制而成的薄片。
三、用途:
1.用于檢驗(yàn)磁粉探傷機(jī),磁粉探傷儀、磁粉和磁懸液的系統(tǒng)靈敏度 (綜合性能)。
2.用于檢測被檢工件有效磁化區(qū),和大致的有效磁場強(qiáng)度和表面的磁場方向。
3.用于檢驗(yàn)磁粉探傷操作方法和工藝規(guī)程是否正確。
4、幾何形狀復(fù)雜的工件磁化時(shí),各部位的磁場強(qiáng)度分布不均勻,無法用經(jīng)驗(yàn)公式計(jì)算磁化規(guī)范,磁場方向也難以估計(jì)時(shí),將小而柔軟的試片貼在復(fù)雜工件的不同部位,可大致確定較理想的磁化規(guī)范。
四、使用方法:
選適當(dāng)磁粉探傷靈敏度的試片,將刻有槽的一面用膠帶紙緊密地貼在工件上(膠帶紙貼于試片兩邊緣,不要影響試片背面的刻槽部位)。
進(jìn)行外加磁場法,對工件進(jìn)行磁化,并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉(磁化規(guī)范由低檔逐提高,以顯示磁痕為界,即是磁化電流)。
上述步驟完畢后,貼在工件表面上的試片,即可清楚顯示磁痕。
五.使用注意事項(xiàng)
1、試片使用前,用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油污擦去,再用膠帶紙緊密地貼在工件上。
2、試片用后應(yīng)用溶劑清洗并擦干并請涂防銹油。
3、試片有摺皺不平或破裂,會(huì)影響探傷靈敏度,不宜繼續(xù)使用。
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