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磁粉探傷機(jī)在渦流鍍層厚度測(cè)量中的優(yōu)勢(shì)
作者：admin 發(fā)表時(shí)間：2020/1/27 1:21:47
根據(jù)測(cè)量原理，涂層厚度計(jì)有磁測(cè)厚儀、渦流測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、電解測(cè)厚儀、輻射測(cè)厚儀五種。目前，中國(guó)最常用的方法是1,2法。熔覆層的厚度可以通過熔覆層的厚度來(lái)測(cè)量，即熔覆層的厚度。所以只要包層與基材的磁導(dǎo)率差足夠大，就可以測(cè)量包層的厚度。
磁感應(yīng)原理磁感應(yīng)原理是利用探頭通過非鐵磁包層流入鐵磁基體的磁通來(lái)確定包層的厚度，包層越厚，磁通越小。由于它是一種電子儀器，易于校準(zhǔn)，可以實(shí)現(xiàn)多種功能，擴(kuò)大范圍，提高精度。由于試驗(yàn)條件可以大大降低，因此比磁吸式應(yīng)用領(lǐng)域更廣泛。
采用渦流原理的測(cè)厚儀，原則上可以通過在所有導(dǎo)電體上涂不導(dǎo)電的涂料來(lái)測(cè)量，如航天飛機(jī)、車輛、家用電器、鋁門窗等鋁制品表面的涂料、塑料涂層和陽(yáng)極氧化膜。一些特殊的應(yīng)用是金屬表面的金剛石鍍層和其他非導(dǎo)電鍍層。
涂層材料也可以導(dǎo)電，可以通過校準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)量，但兩者之間的差異至少需要3-5倍(如銅鍍鉻)。校準(zhǔn)原則是不包層與基材應(yīng)校準(zhǔn)樣品分析物:成分是相同的,相同的厚度(主要是取決于厚度小于儀器的最小值約為0.5毫米以下),有相同的曲率半徑,如測(cè)量面積小于儀器的技術(shù)參數(shù)要求(直徑約20毫米以下),還應(yīng)當(dāng)有相同的區(qū)域進(jìn)行測(cè)試。如果包層含有導(dǎo)電元件，校準(zhǔn)樣品的包層應(yīng)具有與被測(cè)對(duì)象包層相同的導(dǎo)電性能。經(jīng)其它試驗(yàn)(包括有損試驗(yàn)法)或以校準(zhǔn)標(biāo)定芯片作為鍍層，標(biāo)定后的試樣厚度可按上述方法標(biāo)定。
磁感應(yīng)原理磁感應(yīng)原理是利用探頭通過非鐵磁包層流入鐵磁基體的磁通來(lái)確定包層的厚度，包層越厚，磁通越小。由于它是一種電子儀器，易于校準(zhǔn)，可以實(shí)現(xiàn)多種功能，擴(kuò)大范圍，提高精度。由于試驗(yàn)條件可以大大降低，因此比磁吸式應(yīng)用領(lǐng)域更廣泛。
采用渦流原理的測(cè)厚儀，原則上可以通過在所有導(dǎo)電體上涂不導(dǎo)電的涂料來(lái)測(cè)量，如航天飛機(jī)、車輛、家用電器、鋁門窗等鋁制品表面的涂料、塑料涂層和陽(yáng)極氧化膜。一些特殊的應(yīng)用是金屬表面的金剛石鍍層和其他非導(dǎo)電鍍層。
涂層材料也可以導(dǎo)電，可以通過校準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)量，但兩者之間的差異至少需要3-5倍(如銅鍍鉻)。校準(zhǔn)原則是不包層與基材應(yīng)校準(zhǔn)樣品分析物:成分是相同的,相同的厚度(主要是取決于厚度小于儀器的最小值約為0.5毫米以下),有相同的曲率半徑,如測(cè)量面積小于儀器的技術(shù)參數(shù)要求(直徑約20毫米以下),還應(yīng)當(dāng)有相同的區(qū)域進(jìn)行測(cè)試。如果包層含有導(dǎo)電元件，校準(zhǔn)樣品的包層應(yīng)具有與被測(cè)對(duì)象包層相同的導(dǎo)電性能。經(jīng)其它試驗(yàn)(包括有損試驗(yàn)法)或以校準(zhǔn)標(biāo)定芯片作為鍍層，標(biāo)定后的試樣厚度可按上述方法標(biāo)定。